产品简介 UTX620是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪,适用于: 1、尺寸较大的五金、接插件、电气连接器电镀,塑料、ABS、镁铝合金电镀; 2、尺寸较大、含量普通的合金材料分析; 3、镀液分析。
产品特点
1、从K到U的快速元素分析、金属镀层厚度检测
2、检测灵敏度0.01%到100%;镀层0.03um到35um
3、测量时间短,每个测量只需10-60秒
4、15-20倍彩色CCD系统用于样品图像观察
5、有多种形状和多种规格的准直器可供选用
6、大窗口正比计数器,提高测量稳定性
7、机械结构简单,可靠
8、FP基本算法软件
9、灵活的应用分析软件
10、仪器安装简单、快速
技术指标
高压发生器
输入电压
24VDC±10%
输出电压
0-50kV
输出电流
0-2.0mA
输出精度
0.01%
备注
有自动软件侦测功能
X射线管
X射线管靶材
W靶、Rh、Mo、Ag、Cr靶材可选
X射线管窗口
尼龙窗
电气参数
50W、4-50kV,0-1000uA
冷确方式
硅脂冷却
使用寿命
15000-20000h
探测器
检测范围
K19-U92
分辨率
FWHM<760eV
探测窗口
铍窗,窗口面积:400mm2
镀层测厚指标
分析范围
0.01um—35um
**层精密度/准确度
相对标准差5%以下(厚度大于0.5um时)
相对标准差10%以下(厚度大于0.5um时)
谱处理系统
处理器类型
全数字化32-bit3 DSP
谱通道数
256,512,1024,2048可供选择
计数率
大于100000cps
能量范围
1400eV-40960eV
死时间
<3%
光路系统和样品观测
准直器系统
单一准直器φ0.2mm
对焦系统
激光激光对焦
滤光器
多种滤光器(Ni、Cu、Mo、Al、Ti)可供选择
样品观察系统
300万象素高清CCD摄像头,20倍光学变焦。
样品室
样品室内部空间(mm)
(宽×高×深):450×160×400mm
样品台尺寸
(宽×深):250×275mm
样品台承载重量
≤5kg
试验样品*大尺寸
宽×高×深:440×150×390mm。
样品台控制方式
简易手动样品台
工作台移动技术数据
X=200±5、Y=200±5、Z=160±5mm
工作台移动精度
0.02mm
计算机和软件
控制计算机
联想品牌机T4900V,512MB内存,80G硬盘
显示器
联想17寸LCD显示器
操作系统
WindowsXP、OEM简体中文版
报告结果
Word、Excel格式
软件
镀层测厚软件、元素分析软件
软件类型
FP基本参数法软件
软件语言
简体中文、繁体中文、英文、其它
谱显示
自动峰定性,KLM标记,谱重迭比较
谱处理
总强度,净强度,背景强度;**积,净面积,多元素拟合,高斯拟合;倒数谱
资料分析
基本参数,基本谱图,无标样测试,峰位修正,底材修正
重量和尺寸
设备主体尺寸(mm)
宽×高×深:W 580×H 600×D 715mm
主体重量
约60kg
使用环境
工作环境
温度15-250C,湿度40-70%RH
电源系统
单相220V±10%,工作电压在充许范围内
其它
1. 不要靠近产生强磁场,电场,高频等装置
2. 减少振动
3. 粉尘少,湿度低,无腐蚀性气体
4. 日光不能直射
5. 作为地震的对策,要考虑装置的固定
MS2621H 34BH6BT MS2621HI HFKLT21 MS2621HIA MS2621HIC MS2621PI HFKLT2AII HFKLT2II MS185050 34EH6BT 34BH10BT 34EH10BT MS1850 34BB10HT 34EB10HT MS1850A MS1850300 24BH6BT MS1850500 24EH6BT MS2040 24BI1H10BT KLSII KSII KLS2 KS1 KLS1 HRLS1S KBL220L BLLSII BSLSII MS2670GN BSLS1 BSLS2 TLR2R111 KSLTII XTKS20 XTKS30 JCLSII 24EI2H10BT JLK3Z100 MS2670GI MS2670G
沪公网安备 31011402002798号