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WYV-S数显折射仪是国内首创的高精度多波长大量程数显折射仪，能对透明或半透明固体或液体物质的折射率，平均色散、部分色散（即能测定706.5nm、656.3nm、589.3nm、546.1nm、486.1nm、435.8nm、434.1nm和404.7 nm等八种常用波长的折射率）和糖溶液的质量分数（Brix）进行快速精确地测定的仪器。有友好的操作界面、测试速度快、重复性好、有温度修正、数据存储、U盘存储和USB通信接口功能。由于折射率是物质的重要光学常数之一，能借以了解物质的光学性能、纯度等，所以此仪器是科研单位、高等院校和光学玻璃行业必备仪器之一，也广泛应用于石油、化学、制药、制糖、食品工业等行业。
主要技术参数
（1) 折射率测量范围（nD）：1.30000～1.70000（液体）
（2) 折射率测量范围（nD）：1.30000～1.95000（固体）
（3) 多波长：706.5nm、656.3nm、589.3nm、546.1nm、486.1nm、435.8nm、434.1nm和404.7 nm
（4) 测量示值误差（nD）：±0.00005
（5) 测量分辨率（nD）：0.000001
（6) 蔗糖溶液质量分数（锤度Brix）读数范围：0～100%
（7) 测量示值误差（锤度Brix）：±0.1%
（8) 测量分辨率（锤度Brix）：0.01%
（9) 温度显示范围：0～80℃
（10) 温度显示分辨率：0.1℃
（11) 输出方式： USB或U盘
（12) 电源：AC220V～240V 频率50Hz±1Hz
（13) 仪器外形尺寸:376mm×230mm×440mm
（14) 仪器净重：11Kg
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