A.1校准试块
轴瓦合金试块,简称ZW-HJ试块,用于轴瓦超声波检测仪器、探头校准试块,其形状和尺寸见图A.1所示。
图A.1 ZW-HJ试块(单位:mm)
A.2技术要求:
1)试块材料为ZChSnSb11-6,内部应无缺陷;
2)试块外形垂直度、平行度±0.05mm,孔径±0.05mm;探测面光洁度为1.6μm,其余光洁度3.2μm;试块尺寸及缺陷位置尺寸公差±0.1mm,
3)试块应经计量部门检定合格。
附 录 B(规范性附录)轴瓦超声波检测参考试块
B.1参考试块
轴瓦超声波检测Ⅰ参考试块简称ZW-Ⅰ,轴瓦超声波检测Ⅱ参考试块简称ZW-Ⅱ。其形状和尺寸见图B.1、图B.2所示。
图B.2 ZW-Ⅱ参考试块(单位:mm)
B.2技术要求:
1)试块材料
衬背材料:35钢
合金材料:ZChSnSb11-6
衬背厚度:当R=300mm时,T=50mm,当R=400mm时,T=80mm。
2)试块Ⅰ侧为结合良好区域,Ⅱ侧为结合**区域。
3)外形垂直度、平行度±0.05mm,探测面光洁度为1.6μm,其余光洁度3.2μm;试块各尺寸公差±0.1mm,
4)试块应经计量部门检定合格。
京公网安备 11010802025952号