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- 产品名称：重庆电子元器件高低温冲击试验箱测试
- 产品型号：LTS-80
- 产品展商：宏展科技（重庆）有限公司
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- 发布时间：2018-09-17
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简单介绍
重庆电子元器件高低温冲击试验箱测试，混合型湿度循环试验冷热冲击试验箱 *新理念的混合型试验设备。 重庆电子元器件高低温冲击试验箱测试，具有湿度循环试验的功能。
产品描述
重庆电子元器件高低温冲击试验箱测试
混合型湿度循环试验冷热冲击试验箱
Thermal Humidity Shock Test Chambers
*新理念的混合型试验设备。
具有湿度循环试验的功能。
重庆电子元器件高低温冲击试验箱测试
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型号
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TSH-100-W
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TSH-200-W
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方 式
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2温区或3温区风门切换方式
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性能
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测试区域
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高温曝露温度范围
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冷热循环试验+70℃～ +150℃ 结露循环试验-10℃～ +100℃
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低温曝露温度范围
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-70℃～ +10℃
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温度波动
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± 1℃
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湿度波动
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± 5%RH
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高温恒温器
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预热温度上限
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+150℃
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湿度范围
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40～95%RH(结露循环试验时)
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温度上升时间
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-10℃→+100℃ 30分以内
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温度下降时间
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+20℃→-10℃ 60分以内
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低温恒温器
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预冷温度下限
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-75℃
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温度上升时间
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-75℃→+10℃ 30分以内
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温度下降时间
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常温到-75℃ 60分以内
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温度恢复性能
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冷热循环试验
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恢复条件
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2温区高温曝露：+75℃ /60分 低温曝露：-35℃ /30分电源电压：AC200V传感器位置：试料上风口试料：铝合金170kg
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恢复时间
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高温恢复：10分以内(常温→+150℃) 低温恢复：10分以内(常温→ -65℃)
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高温恢复：16分以内(常温→+150℃) 低温恢复：16分以内(常温→ -65℃)
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结露循环试验1
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恢复条件
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2温区高温曝露：+75℃ /60分 低温曝露：-35℃ /30分电源电压：AC200V传感器位置：试料上风口试料：铝合金170kg
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恢复时间
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高温恢复：20秒以内(5℃→+25℃90%RH) 低温恢复：3分以内(+25℃90%RH→ +5℃)
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高温恢复：20秒以内(+5℃→+25℃90%RH) 低温恢复：5分以内(+25℃90%RH→ +5℃)
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结露循环试验2
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恢复条件
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2温区高温曝露：+75℃ /60分 低温曝露：-35℃ /30分电源电压：AC200V传感器位置：试料上风口试料：铝合金170kg
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恢复时间
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高温恢复：5分以内(-30℃→+25℃ 95%RH) 低温恢复：5分以内(+25℃ 95%RH→ -30℃)
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高温恢复：10分以内(常温→+150℃) 低温恢复：10分以内(常温→ -65℃)
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试料框承重
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5?(试样均匀分布)
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测试区尺寸
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W650 × H460 ×D370mm
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W650 × H460 ×D670mm
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本体外尺寸
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W1670 × H1900 ×D1570mm
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W1670 × H1900 ×D1870mm
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重 量
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约1300kg
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约1550kg
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重庆电子元器件高低温冲击试验箱测试
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