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涂层测厚仪涡流测厚原理

涂层测厚仪知识介绍
又称为覆层测厚仪,其原理如下：
磁性测厚原理:当测头与覆层接触时,霍尔发现这个电位差UH与电流强度IH成正比,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,与磁感应强度B成正比,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,与薄片的厚度d成反比。通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。

涡流测厚原理:利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场,磁性测厚法是用来无损的测磁性金属上的非磁性覆盖层的厚度,现在有一款新型的涂层测厚仪,即尼克斯涂层测厚仪,它采用的是*新的磁感技术。也就是我们知道的霍尔效应,霍尔于1879年发现的。涡流法可无损的测量费磁性金属基体上的非导电层的厚度。通过研究霍尔电压与工作电流的关系,测量电磁铁磁尝磁导率、研究霍尔电压与磁场的关系,涂层测厚仪又叫覆层测厚仪,测膜仪,涂镀层仪,它是采用磁性测厚法和涡流法测厚原理。

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