CHY-CA太阳能硅片厚度检测

CHY-CA太阳能硅片厚度检测适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度**测量。

应用范围

薄膜   薄片   复合膜   隔膜    纸张    纸板    箔片 

 特 征

1. 机械接触式测量方法，不受测量材料限制
2. 进口上等传感器，测量分辨率高达0.1微米
3. 传动原件，保证了实验结果的稳定性、准确性
4. 测量头对薄膜（纸张）的接触面积，接触压力严格遵循相关标准
5. 特殊结构设计、保证上下测量平面的平行
6. 灵活、方便的配置方式更能满足范围更宽的测量，非标实验易于实现
7. 试验数据大屏幕液晶显示、操作按键人性化设计
8. 可设置手动、自动两种试验模式、
9. 测量结果自动统计、打印具有电脑通信接口
10. 兼容ISO  ASTM等多种测量标准

 结构组成

本试验仪主要有控制系统，测量系统、打印输出系统第三部分组成，测量系统对薄膜进行测量，并输出相应电信号，控制系统用以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等：打印输出系统的功能是统计结果的输出，打印试验结果。

CHY-01薄膜厚度测试仪 功能原理

本试验仪采用目前世界测量领域精准的技术成果，确保测量结果的高**性，多次测量结果的高度一致性，且操作调试极其方便，几近与自动化操作，*大限度的减少了人为因素对测量结果带来的影响，对于多次测量，可对测量结果进行统计、分析、打印输出；接触面积、测量压力、移动速度等严格遵循相关标准的规定。

技术指标

测量范围：0～2mm（常规）

          0～6mm；12mm（可选）

分 辨 率：0.1μm

测量速度：10次/min（可调）

测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）

接触面积：50mm²（薄膜）；200mm²（纸张）

          注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制

电    源：AC 220V 50Hz

外形尺寸：461 mm (L)×334 mm (B)×357mm (H)

净    重：33kg

标    准

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

操作步骤

上电——设置测量参数——进入测试界面——放置待测薄膜——启动测量——测量结束——打印输出测量结果——试验结束

注：本测量仪有记忆功能，若下次测量参数与上次相同，可直接进入测量，无须再进行设置。

配    置

标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件

选 购 件：专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码

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