科文品牌可程式 高低温湿热试验箱是国内高性价比，高品质的一款温湿度试验设备。科文是国家科学院，**单位，高校实验室及多家上市企业工厂品质部，研发部，等单位供应可靠性测试设备。购买高低温湿热试验箱优选科文品牌。
科文品牌可程式 高低温湿热试验箱主要用来测试电子、电工、电器、光电、光伏、光纤、电容器、电阻、电脑、电线、电缆、通讯设备、太阳能组件、电子产品、电子元器件、通讯、数码产品、塑胶、橡胶、化工、涂料、油墨、油漆、医药、建材、汽车、胶粘、印刷、陶瓷、五金、航空、航天、**、高分子材料、合成材料、LED半导体、LED光电、LED照明、LED灯柱、LED电源、LED模组、LED模块、LED显示屏、LED灯泡、LED日光灯、LED芯片、LED电视、LED显示器、LED数码管、LCD、LCD模组、LCD液晶屏、LCD触摸屏、LCD显示器、PCB、PCB电路板、PCB线路板、FPC。
科文品牌可程式 高低温湿热试验箱用于测试各类产品及材料在高温，低温，湿热，高低温循环，高低温恒温，湿热循环，恒定湿热，交变湿热，高温高湿，低温高湿，高温低湿等温湿度环境试验条件下使用或储存时的可靠性能。
科文品牌可程式 高低温湿热试验箱满足标准：
美国**标准,MIL-STD-810F-507.4 湿度
美国**标准,MIL-STD-810F-501.4 高温
美国**标准,MIL-STD-810F-502.4 低温
美国**标准,MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验
美国**标准,MIL-STD810D方法502.2
美国**标准,MIL-STD810方法507.2程序3
美国半导体行业标准,JESD22-A101-B-2004 恒定温湿度试验
美国半导体行业标准,JESD22-A103-C-2004 高温储存试验
美国半导体行业标准,JESD22-A119-2004 低温储存试验
日本工业标准,JIS C60068-2-3-1987 试验Ca:湿热、稳态
日本工业标准,JIS C60068-2-2-1995 试验B:干热
日本工业标准,JIS C60068-2-1-1995 试验A:低温
国际电工委员会标准,IEC68-2-03_试验方法Ca_稳态湿热
国际电工委员会标准,IEC68-2-01_试验方法A_冷
国际电工委员会标准,IEC68-2-02_试验方法B_干热
中国国家标准,GB/T 2423.1-2001 低温
中国国家标准,GB/T 2423.2-2001 高温
中国国家标准,GB/T 2423.3-1993 恒定湿热试验方法
中国国家标准,GB2423.34-86 温湿度组合循环试验
中国国家标准,GB/T2423.4-93方法
中国国家**环境试验设备方法,GJB150.9-8 湿热试验
KW-TH-225S型号高低温湿热试验箱技术参数：
1、型号：KW-TH-225S
2、内箱容积：225L
3、内箱尺寸：宽500×高750×深600mm
4、外形尺寸：宽1050×高1650×深1050mm
5、温度范围：低温-70℃～高温150℃
6、湿度范围：标准型（20%～98%RH）详细请参考湿度控制能力范围图：
7、温度波动度：≤±0.5℃
8、湿度波动度：≤±2.5%RH
9、温度均匀度：≤±2.0℃
10、湿度偏差：75%R.H以下±5.0%RH、75%R.H以上+2.0/-3.0%RH
11、升温速率：约1.0℃～3.0℃/min
12、降温速率：约0.8℃～1.5℃/min
13、电源要求：AC380V/50HZ
湿度控制能力范围图：
科文品牌可程式 高低温湿热试验箱选型表：
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