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- 产品名称:15J测量显微镜 上光新品
- 产品型号:15J测量显微镜
- 产品展商:上光
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- 发布时间:2013-03-19
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简单介绍
15J测量显微镜 上光新品二手闲置,上光新品,含说明书装箱单存货不多,数量有限,售完即止。用于直角座标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,通孔圆直径等等。转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板、量规,钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。
产品描述
15J测量显微镜 上光新品
二手闲置,上光新品,含说明书装箱单存货不多,数量有限,售完即止。
一、用途:
测量显微镜是光学计量仪器之一种,它的结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下:
1、直角座标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,通孔圆直径等等。
2、转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板、量规,钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。
3、用作观察显微镜,以比较检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版,检验纺织纤维等.
二、规格:
物镜
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目镜
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显微镜
放大倍数
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工作距离
(mm)
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视场直径
(mm)
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放大倍数
|
焦距(mm)
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放大倍数
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焦距(mm)
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2.5X
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43.40
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10X
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25.00
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25X
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58.84
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5.6
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10X
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17.13
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100X
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7.81
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1.4
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三、测量工作台读数装置主要规格
x轴移动测量范围:50毫米
y轴移动测量范围:13毫米
测微器分度值:0.01毫米
测量台刻度盘分度范围: 0° - 360°
测量台刻度盘之分度值:1°
测量台刻度盘游标读数示值:6'
照明方式:反射光(自然光)
测量精度:仪器值误差(5+L/15)微米
注:产品照片为实物拍摄,供参考;本公司保留对产品进行改进提高的权利,届时恕不另行通知客户;本产品配置以及实际运费以装箱清单及货运距离为准。包装箱为定制实木结构,故在**性上有保障,但相应重量及运费要高一些,请各位理解。
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