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产品资料

GUT-6000B数字IC测试仪

GUT-6000B数字IC测试仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话，可以
  • 产品名称：GUT-6000B数字IC测试仪
  • 产品型号：GUT-6000B
  • 产品展商：台湾固纬Gwinstek
  • 产品文档：无相关文档
简单介绍
GUT-6000B数字IC测试仪可测试1800多种常见的TTL和CMOS器件，真正在数字IC测试领域实现一个机型测量所有器件的解决方案；GUT-6000B数字IC测试仪支持54/74系列TTL，支持4000和5000系列CMOS
产品描述

GUT-6000B数字IC测试仪产品叙述

固纬Gwinstek GUT-6000B数字IC测试仪可测试1800多种常见的TTL和CMOS器件，真正在数字IC测试领域实现一个机型测量所有器件的解决方案。

GUT-6000B数字IC测试仪特点

  • 循环测试
  • 自动搜寻
  • 自我诊断
  • 过载保护
  • 测量1800种设备
  • 支持54/74系列TTL
  • 支持4000和5000系列CMOS
  • 测试管脚：28 pin

GUT-6000B数字IC测试仪产品规格

测试范围

 

54/74 系列 TTL

4000 及 4500 系列 CMOS

DRIVE

量测种类

 

约 1800 种

测试电压

 

2.5/3.0/3.3/5V DC

测试时间

 

高测试速度，平均 0.6 秒可完成一个 IC

使用电源

 

交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

尺寸及重量

 

335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤

GUT-6000B数字IC测试仪配件

使用手册x1 

电源线x1

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