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荧光示踪仪工作用途简述

荧光示踪仪工作用途简述
　　1.荧光示踪仪荧光激发光谱和荧光发射光谱

　　2.同步荧光（波长和能量）扫描光谱

　　3.3D（Ex Em Intensity)

　　4.Time Base和CWA(固定波长单点测量）

　　5.荧光寿命测量，包括寿命分辨及时间分辨

　　6.计算机采集光谱数据和处理数据（Datamax和Gram32)

　　荧光示踪仪是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的*大尺寸要求为直径51mm,高40mm.

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