-红外透射Wafer正反面定位标记重合误差无损测量硅基半导体Wafer、碲化镉CdTe、碲镉汞HgCdTe衬底无损红外检测太阳能电池组件综合缺陷红外检测
工业检测需要利用红外光的穿透性来对芯片内部进行更加清晰准确的非破坏检测和分析，这在光通讯领域、**封装、晶圆制造中是必需的检测技术。由欧米特自主研发的NIR-RX系列工业红外显微系统是国内领 先的近红外检测设备，使用的红外波长更长，穿透硅片的能力更强，成像更加清晰，是工业检测领域强有力的解决方案。