光泽和平滑度都是物体的表面特性，二者均取决于物体表面的微观结构。早在1919年，物理学家Chinmayanandam就曾研究物体表面镜面反射光量与表面粗糙度之间的关系。而后，又有许多学者相继在这方面开展更为广泛的研究。他们得到一个相同的结论：当波长为λ的光以入射角θ照射物体表面时，沧州欧谱若纸面用轮廓峰谷高度分布标准差表示的物体粗糙度（又称为均方根粗糙度）为σ，入射光强度为I，则物体表面镜面反射光度的强度I′可由下式得到：
I′＝Iexp[-(4πσ·cosσ/λ)]
Cate等人具体研究了纸张的光泽与均方根粗糙度之间的关系，并且指出：用外观轮廓法和光学法所测平均粗糙度的平方σ2与TAPPI光泽之间存在着良好的相关性（相关系数为0．91），如图4－28所示。从图4-28可见，σ2值越大（即表面粗糙度越大），TAPPI光泽越小其它方法测量平滑度时，由于都是在一定压力下进行测量，因而测得的数值与光泽之间的相关性很差。表4－6为三菱制纸株式会社的桂撤所做相关性研究结果。表中数值为75°角测光泽值与几种平滑度测定方法所测值之间的相关系数。从表上可见，它们之间的相关性很差。这反映光泽仅与物体表面的表观平滑度相关，光泽度仪而与一般在压力状态下测得的平滑度之间没有多大相关。
