标准台阶高度/沟槽深度(200~10000)nm,U≦1%,k=2;
本规范适用于激光共聚焦显微镜的校准,其他基于共聚焦原理的显微镜校准也可参照本规范。激光共聚焦显微镜利用共轭点照明、点探测原理,通过激光逐点照明扫描和空间针孔调制技术获取光学层析图像,从而得到被测物体二维图像或三维表面形貌参数的仪器。共聚焦显微镜具有多种照明约束和探测形式,被广泛应用于材料科学、微纳米加工、半导体器件和生命科学等领域。
苏公网安备 32021402000994号