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LDETEK等离子发射色谱仪在高纯D2中杂质的分析微量氧分析仪露点仪品牌
LDETEK等离子发射色谱仪在高纯D2中杂质的分析微量氧分析仪露点仪品牌

LDETEK等离子发射气体分析仪 
应用案例：
高纯D2中杂质的分析（含D2中H2，HD的检测）
通过使用使用特征波长透过的滤光技术的高选择性专用等离子发射检测器以及用MnCl2改性的Al2O3作为填料的专用色谱柱在低温下实现H2，HD及D2的分离。LDETEK等离子发射色谱仪在高纯D2中杂质的分析微量氧分析仪露点仪品牌产品：微量氮分析仪|益康烟气分析仪|LPDT露点仪|美国深特露点仪|美国AII微量氧分析仪|便携式露点仪|Presens顶空分析仪|药品残氧仪|XPDM便携式露点仪|氧分析仪GPR-1200|氧分析仪价格|益康烟气分析仪|进口烟气分析仪|便携式微量氧分析仪|进口露点仪|进口氧分析仪|PTI弯曲挺度仪|Frank-PTI仪器|仪器维修|硫化氢气体分析仪|露点仪校准代表处|分公司|全资子公司|总代理|价格|品牌|批发|上海分公司|北京办
实例中，各组分量程上限10-100ppm，检出限10ppb；结合LDetek的多通道同时分析检测的**技术，能在相对较短的周期内实现高纯D2中杂质的分析。


D2各组分


结论：
通过使用使用特征波长透过的滤光技术的高选择性专用等离子发射检测器以及用MnCl2改性的Al2O3作为填料的专用色谱柱在低温下实现了高纯D2中杂质的分析。LDETEK等离子发射色谱仪在高纯D2中杂质的分析微量氧分析仪露点仪品牌

该系统能实现各项杂质的检出范围为检出上限10~100ppm至检出下限10ppb，系统能够轻松地完成高纯D2的中氢同位素杂质的分离，并且系统模块化设计，可远程操控，是有高纯D2检测需求的客户的理想选择。

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