目前,国内隔膜和使用隔膜的电池厂家常采用扫描电镜和压汞仪进行表征. 扫描电镜只能看表面的微观结构, 表征的只是孔道端口的孔径大小，而非真正起到过滤作用的孔吼处（孔道中*窄处）的孔直径，另外SEM测试，需要通过一定的统计分布才能算出孔径分布, 而且测试的区域相当小, 难以表征材料的宏观性能. 压汞仪由于使用汞作为测试介质, **性存在一定问题, 而且测试需在高压 ( 400 MPa)下进行, 给微孔结构带来一定的破坏. 因此二者都部不太适合对微孔隔膜的表征。
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