膜厚仪又名膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层膜厚仪。手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
1、标准校准:适合平整光滑的表面和大致的测量。例如，低于一点校准精度要求的场合。
2、一点校准:置零，不用标准箔。用于允许误差超过3%的场合。
3、二点校准:置零，用一片标准箔。用于误差范围在1-3%（*大）之间的测量。探头误差范围应另考虑。
4、二点校准:置零，用二片标准箔。用于以下场合:①在粗糙表面测读;②厚度在两片箔厚之间的平滑表面的**测量。
5、透过厚度未知涂层的校准:用箔校准。如果被测样本在校准时，没有无涂层的用于比较的样本，应当采用此法校准。
注意:校准箔是指所有的校准标准，包括2mm，5mm，10mm厚的标准板。
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