膜厚仪产品特点
膜厚仪 ，又叫膜厚计、膜厚测试仪，分为磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光 X 射线仪镀层测厚仪。采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
膜厚测试仪产品特点：
能够量测无铅焊锡
配备了薄膜 FP 法，可以同时量测 Sn-Ag ， Sn-Bi ， Sn-Cu 等，无铅焊锡的镀层后与成份
搭载中心搜索软件
通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的量测中心位置。
拥有防冲功能
搭载激光对焦系统
搭载测试报告自动生成软件
拥有自动量测软件以及中心搜索软件
搭载了薄膜 FP 法软件
X 射线和紫外线与红外线一样是一种电磁波。可视光线的波长为 0.000001m(1 μ m) 左右 ,X 射线比其短为 0.m 至 0.00000001m(0.01-100?) 左右。
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