Nanotrac Wave II Zeta电位分析仪

Nanotrac Wave II通过增强的光信号，新颖的探针技术和**的算法为用户提供了**的颗粒分析能力。无论您的材料是ppm还是接近成品，Wave II都能对亚纳米到几微米范围内的材料进行快速，灵敏和准确的测量。 
Nanotrac Wave II是一种测量系统，用于直接自动测量电泳迁移率和布朗运动以及由此产生的Zeta电势和粒径。 
Microtrac MRB是颗粒分析技术的先驱，开发DLS系统已有30多年的历史。Nanotrac Wave II是*新一代的亚微米粒度和Zeta电势分析仪。Nanotrac Wave II的新的设计提供了可靠的技术，可实现更快的测量速度，小于0.8 nm的粒径测量，更高的精度和准确性，所有这些都结合在紧凑的动态光散射分析仪中，无需移动光学组件。广泛的软件包（无许可证）根据ISO 22412计算分析数据，并根据CFR21 Part 11批准。
Nanotrac系列的测量原理基于180°外差-后向散射布置中的动态光散射（DLS）。在这种设置中，一部分激光束被添加到散射光中。这就像散射光的光学增强一样。粒度范围为0.8至6,500纳米。与传统的DLS相比，Microtrac MRB的参考拍打可将光信号增加100到1,000,000倍。增强的光信号使用户能够在市场上*宽的浓度范围内准确测量单模和多模分布。

特征

• 增强的光信号，可对参考拍打提供**的精度
• 独特的探头设计，固定的光学器件和180°背向散射采集功能，可在从ppm到接近固体（40％w / v）的*宽浓度范围内进行快速准确的测量
• 无需“先验”或预先了解粒度分��
• 通过消除电渗流引起的误差，能够测量更接近等电点的Zeta电位。ZP测量范围为-200至+ 200mV
• 用户可选的数据呈现模式：

1. 分布–标准体积粒径分布
2. 旧版-从“旧版”工具过渡时确保数据一致性
3. 模式–同时测量尺寸和浓度

• 可移动样品池–特氟龙或不锈钢
• 所需样品量为150 µl –非常适合高价材料
• 珀尔帖温度控制装置
• 多个流通池选项–可以连接滴定仪。

产品优势

• 无需“先验”粒度分布知识，只需加载材料并运行即可
• 简便的SOP设置和管理，非常适合跨多个班次管理用户
• 显示比色皿和样品池的清洁度，包括警报和错误消息
• 提供多种翻译语言
• 广泛的数据库
• 符合FDA 21 CFR Part 11
• 统计分析
• 手动选择材料的动态粘度值–确保准确性和一致性（根据Stokes-Einstein）
• 无需设置零–空白测量内置于软件中
• 用户收到有关规范通过或失败的通知
• 实时或召回的数据库趋势图
• 用户定义的数据报告和计算
• 多种数据导出选项

电泳：

设置在激光散射光（180°）中，用于浓缩和稀释的颗粒分散体。通过直接分析布朗运动来分析电泳迁移率，Zeta电位（根据Smoluchowski）以及粒径分布的软件。

ZETA电位范围：

-200mV bis + 200mV，Zeta电位重复性+/- 1 mV（与PS Latex标准颗粒150至500 nm有关）

应用实例

制药/生物技术，化学，食品/饮料，塑料/聚合物，涂料/覆盖层，油墨，粘合剂，学术研究