Nanotrac Wave II通过增强的光信号，新颖的探针技术和**的算法为用户提供了**的颗粒分析能力。无论您的材料是ppm还是接近成品，Wave II都能对亚纳米到几微米范围内的材料进行快速，灵敏和准确的测量。
Nanotrac Wave II是一种测量系统，用于直接自动测量电泳迁移率和布朗运动以及由此产生的Zeta电势和粒径。
Microtrac MRB是颗粒分析技术的先驱，开发DLS系统已有30多年的历史。Nanotrac Wave II是*新一代的亚微米粒度和Zeta电势分析仪。Nanotrac Wave II的新的设计提供了可靠的技术，可实现更快的测量速度，小于0.8 nm的粒径测量，更高的精度和准确性，所有这些都结合在紧凑的动态光散射分析仪中，无需移动光学组件。广泛的软件包（无许可证）根据ISO 22412计算分析数据，并根据CFR21 Part 11批准。
Nanotrac系列的测量原理基于180°外差-后向散射布置中的动态光散射（DLS）。在这种设置中，一部分激光束被添加到散射光中。这就像散射光的光学增强一样。粒度范围为0.8至6,500纳米。与传统的DLS相比，Microtrac MRB的参考拍打可将光信号增加100到1,000,000倍。增强的光信号使用户能够在市场上*宽的浓度范围内准确测量单模和多模分布。