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- 产品名称：Electronic Speckle Pattern干涉仪(ESPI)
- 产品型号：HO-ED-INT-15
- 产品展商：holmarc
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- 发布时间：2020-03-19
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简单介绍
电子散斑图干涉仪（ESPI）是研究表面变形的一种非破坏性光学方法。它依赖于来自测试对象的漫反射光与参考光束之间的干涉，这是*灵敏的干涉技术之一，因此我们可以测量平面内或平面外的亚微米级位移。变形前后的图像由CCD相机记录，并使用图像分析软件进行分析。变形会导致条纹图案发生变化，可以使用提供的软件来分析这些变化来发现变形。
产品描述
电子散斑图干涉仪（ESPI）是研究表面变形的一种非破坏性光学方法。它依赖于来自测试对象的漫反射光与参考光束之间的干涉，这是*灵敏的干涉技术之一，因此我们可以测量平面内或平面外的亚微米级位移。变形前后的图像由CCD相机记录，并使用图像分析软件进行分析。变形会导致条纹图案发生变化，可以使用提供的软件来分析这些变化来发现变形。
由于此干涉仪对振动噪声高度敏感，因此霍尔马克的ESPI带有振动隔离光学面包板。使用输出功率为5mW的线偏振632.8nm He-Ne激光器作为光源。分束器将激光束分成两部分。透射光束通过空间滤光片组件均匀照射测试对象，而反射光束作为参考光束落在CCD上。照明的测试对象的图像由变焦镜头和CCD捕获。
我们的ESPI系统允许用户在同一系统中执行电子斑点剪切干涉测量，而不会干扰光学装置和对准。Holmarc的相机应用程序软件有助于捕获和分析图像。
实验范例
使用电子散斑图案干涉仪（ESPI）观察和研究物体相对于机械和热负荷的变形
对于ESPI设置，我们不需要样品膜片的双张图像。我们只需要一张光阑和参考光束的图像就可以得到干涉图。
使用电子散斑切变干涉仪（ESSI）观察和研究物体相对于机械和热负荷的变形
对于ESSI设置，我们确实需要样品光阑的双张图像，而不是参考光束。
技术指标
激光：He-Ne 5mW @ 632.8nm。
扩束镜：带针孔的20X显微镜物镜。
变焦镜头：尼康®
相机：1 / 2.5“ 5 MPC MOS颜色
软件：Holmarc相机应用软件和图像分析软件。
光学面包板：1200mm x 900mm尺寸，带有隔振支架。
特征
可以在可见光下进行测量
非接触和全场测量
物体轮廓和位移测量
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