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- 产品名称：Z扫描系统
- 产品型号：HO-ED-LOE-03
- 产品展商：holmarc
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- 发布时间：2020-03-20
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简单介绍
Z扫描技术是一种简单且流行的实验技术，用于测量材料的强度相关非线性磁化率。
Holmarc的Z扫描系统（型号：HO-ED-LOE-03）是z扫描技术的简单实现，可用于表征光学材料。
产品描述
Z扫描技术是一种简单且流行的实验技术，用于测量材料的强度相关非线性磁化率。
Holmarc的Z扫描系统（型号：HO-ED-LOE-03）是z扫描技术的简单实现，可用于表征光学材料。
实验范例
测量材料的强度依赖性非线性磁化率
与z-扫描相关的两个可测量量是非线性吸收和非线性折射。这些参数与三阶非线性磁化率的虚部和实部相关，并提供有关材料特性的重要信息。
特征
表征光学材料的非线性特性
光谱响应范围为320-1100nm的光电探测器
黑色阳*氧化机械零件
光学面包板使系统灵活
高精度光学
用户友好软件
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