Bettersize3000plus斜入射双镜头粒度粒形分析仪

Bettersize3000plus斜入射双镜头粒度粒形分析仪是一种激光+图像二和一的粒度粒形分析系统。它的激光散射系统为双镜头斜入射光学系统，成像系统为动态双路远心显微成像系统，可同步进行粒度和粒形分析，实现了一机两用。双镜头斜入射光学系统是由大功率泵浦偏振激光器、进口镜头组、石英样品池和全角度光电探测器阵列组成。由于采用了高性能的镜头和独特的激光斜入射结构，在单光束条件下实现了全角度散射光信号的接收——这是百特原创的砖利技术。

 动态双路远心显微成像系统并联在激光散射系统中，可随时拍摄流动中的颗粒图像并同时进行粒形分析，在得到粒度分布的同时，还能同时得到圆形度、长径比、粗糙度等粒形参数。更重要的是，这个显微成像系统能准确捕捉到样品中的*大颗粒，实现了D100的有效测量，弥补了激光粒度仪无法测试D100的缺憾，为锂电池等领域提供了准确测试D100的可靠手段。

主要技术指标与性能

• 激光散射系统

• 显微图像系统

三、主要应用领域

• 各种非金属粉：如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸锆、氧化锆、氧化镁、氧化锌等。
• 各种金属粉：如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。
• 其它粉体：河流泥沙、锂电池材料、催化剂、荧光粉、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工材料、纳米材料、造纸填料涂料、各种乳浊液等。

四、突出特点

• 斜入射双镜头技术：百特砖利技术，采用激光斜入射技术，结合前向、侧向和后向散射光探测技术，达到全角度测量，扩大了测量范围，提升了细颗粒端的测量精度，提升了分辨率。
• 显微图像与激光散射二合一技术：激光法测试细颗粒具有优势，图像法测试粗颗粒准确度高，采用激光与图像联合测试属于强强联合，测试结果准确性更高，同时可进行粒形分析。
• 样品折射率测试技术：对未知折射率的样品可以先测量折射率，包括实部和虚部，保证了粒度测试的准确性。
• 自动循环分散与自动测试技术：防干烧超声波分散器、离心循环泵、自动进水系统、自动排水和溢水系统，适用于所有样品，保证了样品充分分散，保证了测试的准确性和重复性。

五、良好的重复性

• 稳定有效的分散系统。
• 激光器、探测器、信号传输系统稳定可靠。
• 自动对中系统使仪器始终保持在理想状态。
• 采样速度达3500次/秒，大量数据有效减少少数异常数据对重复性的影响。

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