SURTRONIC DUO新型粗糙度仪

SURTRONIC DUO新型粗糙度仪

• SURTRONIC DUO是英国泰勒公司新型粗糙度仪，SURTRONIC DUO新型粗糙度仪可测 Ra ， Rz 两种参数。DUO 具有红外接口可在距离被测物 1 米处进行测量。

• SURTRONIC DUO新型粗糙度仪通过仪器底部传感器直接接触被测工件进行测量，其设计可满足不同的技术与工作环境要求。

• SURTRONIC DUO新型粗糙度仪快速测量在仪器底端接触工件瞬间，即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可

• 携带方便 DUO可应用于车间、实验室的测量。也可方便置于衣服口袋中或挂在腰间。

• 经外接口 操作者可在距离被测工件 1m 处操作测量。

• 校准方便 DUO 具有自身校准标准，可预设标准值，通过 LCD显示出来。

• 测针保护 不用时，设“ park ”位置可**保护测针。

• 人体工程学设计

• DUO新型粗糙度仪量    程：    200um                

• 行    程：    5mm

• 取样长度：    0.8mm+/-15%        

• 参    数：    Ra ： 0.1um-40um    Ra ： 0.1um-199um

• 精    度：    Ra:0.1um  Rz:0.1um             

• 尺    寸：    125*80*38mm

• 检测方式：     压电式                  

• DUO新型粗糙度仪重   量：     200g