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CSK-ⅢA试块为什么铣圆弧槽？

CSK-ⅢA试块为什么铣圆弧槽？

对于使用过JB/T 4730-2005的朋友，对CSK-IIIA试块都不陌生。在NB/T4730.3-2015中该试块已经较少使用，但仍做保留。CSK-IIIA试块正逐渐退出历史舞台，试块退出历史的原因有待进一步从标准编者处了解，从本文章编者了解其主要原因为CSK-ⅢA试块与国际标准试块差别较大（ASME V卷 ISO均为长横孔试块），很难与国际接轨。CSK-ⅢA试块无法进行直探头校准（如检测插入式接管时不适用）。

CSK-ⅢA试块结构如下：

如上图，CSK-ⅢA试块两个侧面分别有铣弧，φ1*6mm短横孔在圆弧上钻孔。那么为什么要进行铣弧之后再钻孔？（此处感谢甘肃蔡工提的问题，根据问题编者查阅资料，也是弄清楚原因，并突发灵感，准备开设冷知识专栏）。

原因：因为短横孔加工难度相对较大，为了克服边界效应，在试块的侧面加工一个半圆弧，该半圆弧实际只能消除部分边界效应。

边界效应：查阅GB/T 12604.1-2005 《无损检测术语超声检测》，未见边界效应说明，其中有边缘效应：边缘效应为超声波由反射体边缘衍射引起的现象。（此处各位同行有更好的理解欢迎联系编者，相互交流）

知识拓展：
（1）短横孔：
定义：孔长大于孔径，但小于声束直径的圆柱孔成为短横孔。
特点：它的反射声压变化规律在近场时类似于长横孔，在远场时接近于平底孔。它能适应不同角度的斜探头。

（2）长横孔：
定义：孔长大于声束直径的圆柱孔称为长横孔。当长横孔贯穿试块宽度时又可称为横通孔。
特点：长横孔反射规律接近焊缝中的长条状缺陷；长横孔圆柱面有各向对称性，能适应不同角度斜探头；长横孔的发射声压规律性较好，利用长横孔做的距离波幅曲线较为圆滑。

应用：焊缝检测。
（3）平底孔：
定义：平底孔（FBH）,圆盘缺陷（disc flaw）,圆盘形反射体（disc shaped reflector）,平面的圆盘形反射体——出自：GB/T 12604.1-2005 《无损检测术语超声检测》

特点：在远场时，平底孔返回声压随其孔径和距离探头的距离变化的规律性较好，因此在纵波直探头检测中几乎用平底孔作为评价基准和参考反射体孔型。平底孔适用于小于声束截面且在声束垂直方向上有一定投影面积的片状或体积状缺陷的定量，即所谓定缺陷的平底孔当量尺寸。平底孔制作要求较高，孔的尺寸要求**，孔的垂直度偏差要求小，平底面的光洁度要求很高。

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