德国PHYNIX公司制造Surfix PFN内置探头两用统计型测厚仪 膜厚仪 碳化钨超耐磨测头,特快反应速度 同屏显示数据统计值 可存储前80个测值 可测铁基体上涂镀层和有色金属基体上涂层 量程1500μm,精度±1μm+1%读数 分辨率0.1μm.背景光 有红外可接PC及打印机