CTS-2009多通道TOFD超声波检测仪
CTS-2009多通道TOFD超声波检测仪兼容欧盟EN12668-1:2010标准，国内NB/T47013.10,DL/T330，GB/T 23902标准，能够一次性扫查覆盖200mm厚度焊缝，具备还原缺陷特征功能的合成孔径聚焦（SAFT）技术，采用工业级TFT显示屏，具有全WVGA分辨率（800×600），完全胜任在室外和阳光直射的环境下工作，支持全触控操作，提高检测效率。 CTS-2009多通道TOFD超声波检测仪
“3+4+1”多通道设计：3个TOFD通道可一次覆盖200mm厚度的焊缝检测，传统射线检测的理想替代方案；4个常规通道可对焊缝的表面盲区和底面盲区全覆盖检测，3个TOFD通道和4个PE通道的探头线由同一根电缆线引出；1个单通道作为单通道的TOFD检测及常规超声检测复核。 方波激励，超保真低噪声前置放大技术，缺陷识别更清晰；配合本公司前置放大器CTS-8682，信噪比提高10dB左右。 独特的通道间噪声抑制技术，解决国内仪器多通道间串扰问题。 满足国内TOFD标准NB/T47013.10、DL/T330、GB/T 23902，兼容EN12668-1标准。 8.4寸工业级TFT显示屏（800×600），全触控操作，提高您的检测效率。 高达400MHz的A/D采样频率，高采样深度。 一次性TOFD扫描长度达40m。 A扫描、B扫描、TOFD扫描等多种探伤功能。 丰富的数据接口，双USB接口，LAN网络接口，HDMI高清数字接口。 多种扫查器可选，为用户定制专用扫查器,标配扫查器为SCQtofd-3。 采用专用航空级定制数据电缆线，信号传输损耗小，柔韧性能特佳。 集成多种标定功能：根据直通波和底波的深度校准，根据直通波的零刻度校准，根据底波的厚刻度线校准；满足各种条件下的图像标定。 集成多种图像处理功能：合成孔径聚焦（SAFT）技术、拉直、差分、对比度、放大等。 集成多种缺陷标记功能：矩形模式、长度模式、高度模式、自由模式，满足各类缺陷的标记。 扫查图像可以直接复制到粘贴板，在报告中直接粘贴；扫查图像可另存为图片，图片的格式可选BMP/JPEG/TIFF/PNG/GIF；检测参数及缺陷信息易于查看，内嵌检测报告模板，检测报告模板可为用户定制。 内嵌曲面工件扫查的工艺参数计算工具，平板工件的多通道工艺参数计算工具，为用户提供检测工艺设计作参考。 离线分析软件同时兼容CTS-1008plus及CTS-2009两款仪器。 存储容量达16G（可外接扩展到32G），存储长度可达5000m以上（*高扫查精度）；全天候探伤数据记录。 便携式设计，重量仅3.0kg（含电池），便于携带。 大容量锂电池，可连续工作6小时，配备两块电池可满足**的工作量。
一 功能强大的离线分析软件
1 主分析软件
SAFT处理前 SAFT处理后
2 曲面工件检测工艺计算
提供凹面及凸面工件检测工艺计算，快捷得出弧长、PCS、弦高等工艺参数，弧长用于调节探头间距，弦高用于修正缺陷高度。
3 多通道检测工艺计算
支持国内NB/T47013及DL/T330两种标准，可同时设计5个通道的检测参数，满足400mm厚度焊缝的检测工艺。可快捷计算TOFD常用的工艺参数如探头中心间距（PCS）、深度覆盖范围、底面覆盖、时差周期、深度分辨力、扫查面盲区、中心底面盲区、轴偏离底面盲区。
二 配套探头及楔块
系列探头的频率范围为1MHz至10MHz，晶片尺寸范围为3mm至20mm，系列楔块的角度为45°、60°及70°，满足标准推荐使用的要求，覆盖400mm厚度的检测要求。探头接口规格为L5或C5接口。
探头规格：
型号说明：以10N3-T1为例，10表示探头频率，N表示晶片材料代号，3表示晶片直径，T1表示探头外壳型号。
楔块规格：
型号说明：以ST1-45L为例，ST1表示楔块型号，匹配的探头外壳型号为T1，45表示钢中折射角为45°，L表示检测波形为纵波。