产品目录

当前位置：首页 >>> 技术文章 >

技术文章

影响直读光谱仪射线强度的几个因素

影响直读光谱仪射线强度的几个因素
直读光谱仪的定量分析是以荧光X射线的强度为依据的，影响光谱仪射线强度的因素会影响分析的准确度，以下是主要两大影响因素：
    1、基体效应
基体效应包括吸收效应及增强效应。
    吸收效应包括基体对入射X射线的吸收及对荧光X射线的吸收。因为用射线激发样品时，不只是作用于样品表面而且能穿透一定的厚度进入样品内部，而且样品内部分析元素产生的荧光X射线，也必须穿过一定厚度的样品才能射出。在穿透过程中，这两种X射线都会因基体元素的吸收而使射线强度减弱，射线减弱会影响对分析元素的激发效率。
如果入射X射线使基体元素激发所产生的荧光X射线的波长稍短于分析元素的吸收边，它会使分析元素产生二次荧光X射线，从而使分析元素的荧光X射线强度增强，这就是基体的增强效应。
    如果吸收效应占主导地位，则分析结果偏低，如果增强效应占主导地位，则分析结果偏高。
2、不均匀效应
    不均匀效应是指样品颗粒大小不均匀及样品表面光洁度对荧光X射线强度的影响。对于粉末样品，大颗粒吸收效应强，小颗粒吸收效应弱，因此，要求颗粒粒度尽量小一些，以减少对X射线的吸收。测短波X射线时，要求粒度在250目以上，测量波长大于0.2nm的长波x射线时，则粒度要求在400目以上。
    固体块状试样一定要磨平抛光，粉末试样要压实并使表面平滑。粗糙表面会使荧光X射线的强度明显下降。测量短波X射线时，光洁度在1005m左右，测量长波X射线时，光洁度为20-50Mm.

上一篇：金相显微镜拍照打印方法
下一篇：冲击试验机使用前检查和使用操作

若网站内容侵犯到您的权益，请通过网站上的联系方式及时联系我们修改或删除