关键词:电子行业,红外显微镜,微小器件,空间分辨率
引言:史蒂芬是一个微小电子器件研究的专家,随着纳米技术的发展,目前的电子器件机械尺寸越来越小。在完成相同功能的基础上,如何保证微小器件的工作时的温度不超过其正常温度是困扰其的一个重要问题。
如何实时、直观并**的掌握微小器件的温度值及其随时间变化的情况成了*基础和*重要的一步,在寻找多月后,他找到了英诺曼特.....
随着纳米技术的发展,其由上而下的微缩方式在半导体技术领域得到越来越多的应用。以前我们都称 IC 技术是「微电子」技术,那是因为晶体管的大小是在微米(10-6米)等级。但是半导体技术发展得非常快,每隔两年就会进步一个世代,尺寸会缩小成原来的一半,这就是有名的摩尔定律。大约在 15 年前,半导体开始进入次微米,即小于微米的时代,尔后更有深次微米,比微米小很多的时代。到了 2001 年,晶体管尺寸甚至已经小于 0.1 微米,也就是小于 100 纳米。因此是纳米电子时代,未来的IC大部分会由纳米技术做成。
当前,电子器件主要失效形式就是热失效。据统计,电子器件失效有55%是温度超过规定值引起,随着温度增加,电子器件失效率呈指数增长。一般而言电子元器件的工作可靠性对温度极为敏感,器件温度在70-80度水平上每增加1度,可靠性就会下降5%。因此,需要快速可靠的对器件进行温度的检测。由于半导体器件的尺寸越来越小,对检测设备的温度分辨率和空间分辨率提出了更高的要求。
史蒂芬研究的微小器件的尺寸*小达到0.1mmX0.1mm,使用红外点温仪的话,只能测到某个区域的平均温度对于他们的研究是远远不够的,另外红外点温仪的*小光斑尺寸也很难做到0.1mm。如果使用普通的红外热像仪,按照英诺曼特的FI640(640X480像素)能测准温度的*小尺寸也要0.5mm。经过英诺曼特工程师Bob和史蒂芬的多次沟通,我们为其制定了**的解决方案—英诺曼特红外显微镜系统。
通过INNOPROs(英诺曼特的一个内部开发应用和流程软件)建模和模拟实验,我们*终为客户提供了配有目前可实现的*小的空间分辨率的红外镜头的**红外显微镜系统。通过多次的现场调试和实验拍摄了客户非常满意的红外温度热图(如下).....
微电子的发展史:
1880年,爱迪生意外地发现在灯泡里加入一支电极,而将它连接到钨丝的电源去,被加热后的钨丝会向电极放电产生电流,这个物理现象被称为“爱迪生效应”。
1904年,曾担任伦敦的爱迪生电灯公司顾问的英国科学家J.A.Fleming发明了用于无线电信中检波器的真空二极管,这个重大发明的基础就是“爱迪生效应”。Fleming将发明了的二极真空管取名Bulb,或称Valve。 1946年2月14日,公认的世界上**台电子计算机ENIAC在美国宾夕法尼亚大学诞生。这部机器使用了18800个真空管,长50英尺,宽30英尺, 占地1500平方英尺,重达30吨。它的计算速度为每秒5000次的加法运算。机器被安装在一排2.75米高的金属柜里,占地面积为170平方米左右,总重量达 到30吨。它的耗电量超过174千瓦,电子管平均每隔7分钟就要被烧坏一只。
1947年12月,美国Bell实验室的Shockley、Bardeen和Brattain等人发明了晶体三极管[2]。晶体管相较于真空管具有显著的优越性能,因此晶体管促进并带来了“固态**”,进而推动了全球范围内的半导体电子工业。作为主要部件,它及时、普遍地首先在通讯工具方面得到应用,并产生了巨大的经济效益。由于晶体管彻底改变了电子线路的结构,集成电路以及大规模集成电路应运而生。
1958年,Jack S. Kilby发明了集成电路方法[3]。在不超过4平方毫米的面积上,大约集成了20余个元件。1959年2月6日, Kilby向美国**局申报**,这种由半导体元件构成的微型固体组合件,被命名为“集成电路”(IC)。Kilby由此获得2000年诺贝尔物理学奖。Farichild公司的 Robort Noyce和他的研发团队则解决了大规模集成电路生产的关键技术问题。
1965年Intel公司的Moore博士发表论文 Cramming more components onto integrated circuits预言集成电路上能被集成的晶体管数目,将会以每18个月翻一番的速度稳定增长,并在今后数十年内保持着这种势头[4]。Moore的这个预言,因集成电路芯片后来的发展得以证实,并在较长时期保持着有效性,被人誉为“Moore定律”。 Moore定律一直指导着微电子产业的发展。
2002年,芯片的特征线宽已达到0.125 mm,,预计到2010年将达0.05 mm。根据Moore定律的要求,每16个月芯片的集成度要增加一倍,因此需要不断的发展新的加工工艺,达到更高的加工精度。英特尔前总裁Craig Barrett认为:Moore定律还要有效至少20年。
限于篇幅我们未能进行非常细致的介绍,具体可以访问我们的网站,参考除了“红外显微镜在电子微小器件中的应用”的案例文章, 当然你也可以同我们的支持人员进行联系。