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如果光学器件要做测试时应要做哪些环境温度可靠测试呢？

1》高低温存储：

(1)一般有低温存储和高温存储。经大量试验发现，有源器件在低温下，不太可能失效，所以低温存储时间只有72小时，甚*可以不用做。而高温存储一般在85℃下存储2000h，如果器件的*高工作温度高于85℃，那么在器件*高工作温度下存储；

(2)器件存储环境千差万别，有些器件可能放在东北，零下几十度；有些器件可能被运往中东，环境温度五十多度，车内甚*可以到70多度。因此很有必要在发货前，就验证器件是否能抗的住这些极端温度。由于只是运输存储，所以不带电；

(3)相比有源器件，无源器件里面用的胶比较多，因此一般无源器件在-40℃低温存储1000h；

2》高低温循环：

温循的升降温速率*少10℃/min，在85℃和-40℃这两个温度点，还要停留足够长的时间让器件达到环境温度。对于室内应用的光模块，温循100次就OK，对于室外应用光模块，需要温循500次。对于有TEC控温的模块，温循的时候，需要把TEC开着；

3》带电温度测试：

芯片/器件/模块开足马力，电流或者大功率条件下工作，这样做是为了加速失效。对于室外应用，温度设定在85℃，对于室内应用，温度设定在70℃。对于芯片级可靠性，持续时间5000h；对于器件或模块级可靠性，持续时间2000h。特别对于PD，温度一般设定在175℃，时间2000h；

4》湿热测试：

湿热不一定是85℃/85%RH，也可以是其它温度和湿度的组合(75℃/90%RH)，只是85℃/85%是*常用的湿热条件。湿热可以测试气密性器件的气密特性，也可以考验非气密器件的可靠性。GR-468上不分室内室外应用，推荐的85℃/85%RH时间是500h，而GR-1221推荐室外应用双85可靠性要做到*少2000h。需要注意的是，这些标准推荐的时间只是一个参考，具体时间可以根据产品特点而选定，也可以和后面更严格的带电双85合并；

5》耐周期湿度可靠性：

(1)这项实验针对非气密封装的器件，85℃/85%RH，持续1000小时或2000h(视具体产品和应用而定)。需要特别注意的是，并不是工作电流/出光功率越大越好，因为这样会产生大量的热，从而改变器件周围的环境。对于激光器，工作电流保持在阈值电流1.2倍就行了；

(2)湿度和温度同时变化条件下的可靠性实验，有可能会产生水汽凝结或者结霜。这个实验仅仅针对室外应用的器件和模块。该实验的温湿度控制曲线如下图，要做20个循环，一个循环下来要24小时；*少有一半的循环，*后一步要降到-10℃，停留不少于3h。

光器件：分为有源器件和无源器件光有源器件是光通信系统中需要外加能源驱动工作的可以将电信号转换成光信号或将光信号转换成电信号的光电子器件，是光传输系统的心脏。无源器件是不需要外加能源驱动工作的光电子器件。

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