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测厚仪的知识简述

涂层测厚仪及超声波测厚仪的知识简述：

1、基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准

基体金属电性质基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

2、基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

3、边缘效应

仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

4、曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

5、试件的变形

测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测不出可靠的数据。

6、表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

7、附着物质

本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须**附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

8、测头压力

测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

9、测头的取向

1.测厚仪原理--简介

测厚仪，英文名称为thickness gauge ，是一类用来测量材料及物体厚度的仪表，在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度。测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度**测量。

接下来小编为大家介绍几种常见测厚仪的原理，希望对亲们理解测厚仪有一定的帮助!

2.测厚仪原理--激光测厚仪

激光测厚仪：此类测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。

3.测厚仪原理--X射线测厚仪

X射线测厚仪：此类测厚仪利用的是当X射线穿透被测材料时，X射线强度的变化与材料厚度相关联的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。

4.测厚仪原理--超声波测厚仪

超声波测厚仪：这种测厚仪是根据超声波脉冲反射的原理来对物体厚度进行测量的，��探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲会发生反射而返回探头，通过**测量超声波在材料中传播的时间，来计算被测材料的厚度。

5.测厚仪原理--涂层测厚仪

涂层测厚仪：主要采用的是电磁感应法来测量涂层的厚度。涂层测厚仪会在部件表面的探头处产生一个闭合的磁回路，伴随着探头与铁磁性材料之间距离的变化，该磁回路将会发生不同程度的改变，因此会引起磁阻及探头线圈电感的变化。

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