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TP200系统组件包括：
还有一种EO模块（长超程），超程测力与SF相同，但工作范围更大，并在测头Z轴方向提供保护。
TP200采用微应变片传感器，实现优异的重复性和**的三维轮廓测量，即使配用长测针时也不例外。
传感器技术提供亚微米级的重复性，并且消除了机械结构式测头存在的各向异性问题。测头采用成熟的ASIC电子元件，确保了在数百万次触发中的可靠操作。
TP200B采用的技术与TP200相同，但允许更高的振动公差。这有助于克服因坐标测量机传导振动或在移动速度很高的情况下使用长测针所引发的误触发问题。
请注意：我们不推荐TP200B配用LF模块或曲柄/星形测针。
主要应用
传感器方向
单向重复性 (2s μm)
触发水平1：0.40 μm
触发水平2：0.50 μm
XY（2D）轮廓形式测量偏差
XYZ (3D) 轮廓测量偏差
XY平面（SF/EO模块）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模块）：0.1 N至0.15 N Z轴（SF/EO模块）：4.90 N Z轴（LF模块）：1.60 N
LF模块：20 mm钢质至50 mm GF
测针模块交换架
自动：SCR200 手动：MSR1
测针模块通过高重复性机械定位的磁性接头安装在TP200/TP200B测头本体上，具有快速测针交换功能和测头超程保护功能。
有三种测针模块可供选择，具有两种不同的超程测力。
与SF的超程测力相同。
测头Z轴的额外超程为8 mm。
SCR200可对*多六个TP200测针模块进行自动高速交换。SCR200由独立的测头接口 —PI200供电，并可确保**的测针交换。SCR200套件可包含低测力和标准测力组件，每一种套件都包含一个SCR200加上三个测力相同的测针模块。