大量程涂镀层测厚仪

leeb253型大量程涂镀层测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量；广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

leeb253型大量程涂镀层测厚仪符合以下标准：

GB/T4956─1985磁性方法；

JJG818-95《磁阻法测厚仪》；

JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪。

leeb253型大量程涂镀层测厚仪功能与特点

采用了磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性；

覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)；

可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；

具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；

具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)；

具有米、英制转换功能；

具有欠压指示功能；

操作过程有蜂鸣声提示；

具有错误提示功能；

具有自动关机功能。

leeb253型大量程涂镀层测厚仪技术参数

测头类型：F；

测量原理：磁感应；

测量范围：0-6000um；

低限分辨力：1μm(10um以下为0.1um)；

探头连接方式：一体化；

leeb253型大量程涂镀层测厚仪示值误差：

一点校准(um)：±[3%H+1]；

两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1]；

leeb253型大量程涂镀层测厚仪测量条件：

*小曲率半径(mm)：凸1.5|凹9；

基体*小面积的直径(mm)：ф7；

*小临界厚度(mm)：0.5；

温湿度：0~40℃|20%RH～90%RH；

工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)；

测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；

leeb253型大量程涂镀层测厚仪上下限设置：无；

关机方式：自动；

电源：二节3.6V镍镉电池；

外形尺寸：150×55.5×23mm；

重量：150g。

leeb253型大量程涂镀层测厚仪标准配置

leeb253主机；

铁基体；

标准片一套；

充电器；

使用说明书；

合格证书；

包装箱。

可选配

铁基体；

标准片。

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