SP504S光束分析仪(光斑分析仪) Beam
Profiler可以准确地捕获并分析340nm到1100nm的波长。在32.5mm画幅下能形成*大有效面积，具有宽动态范围和良好的信噪比，是进行超大光束轮廓分析的理想选择。
一、SP504S光束分析仪参数
● 波长：340-1100nm
● 光束尺寸：45μm – 23mm
● 接口：GigE
● 传感器类型：CMOS
● 兼容光源：CW、脉冲
● 23mm x 23mm成像仪格式
● *高解析度
● CMOS，全局快门
● 真正44.6dB动态分辨率
● 5120 x 5120像素分辨率，含4.5µm像素间距
● 包括BeamGage专业软体
二、SP504S光束分析仪特点
● 符合ISO标準
● 采用UltraCal演算法，*高精度的测量仪
● 采用自动设置”和“自动曝光”功能进行快速设置和精度优化
三、SP504S光束分析仪测量参数
● 光斑形状/尺寸大小
● 二维/三维空间强度分佈
● 直径D4α(D4αM长轴/D4αm短轴)
● 质心位置(X,Y座标)
● 长宽比
● 峰值位置
● 发散角量测
深圳市博纳德精密仪器有限公司经营的产品有：Ophir激光功率计、Ophir光束质量分析仪、Scitec光学斩波器、SRS放大器、Femto电流放大器、Femto电压放大器、Femto光电探测器、Femto锁相放大器、脉冲发生器、AA
Lab Systems放大器/信号调节器等其它设备，如有需要可以联系我们。
