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超薄膜划痕测试仪*新推出

超薄膜划痕测试仪CSR-2000

SEMICON CHINA 2010将于2010年3月16日至18日在上海新国际博览中心开幕，届时我们将强势推出*新产品超薄膜划痕测试仪CSR-2000，本装置可对薄膜（厚度为数十纳米到数微米）与基材的密着力、膜表面的摩擦系数进行定量评价的试验机。成膜技术各领域中、拉剥测试、铅笔硬度测试等，被广泛应用，本设备符合日本国家标准：JISR-3255

我们诚挚地邀请您亲临参观，指导。期待和您/贵公司的合作！

展会地址:上海新国际博览中心上海市浦东新区龙阳路2345号
展台号码：W2 2363

沾锡天平，可焊性测试仪，RHESCA测试仪，SAT-5100可焊性测试仪，Wetting Balance 5200T，接合强度测试仪

超薄膜划痕测试仪*新推出