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粉体学-粒径的测定方法介绍（包括筛分法等）

1 、显微镜法本法主要测定几何学粒径。光学显微镜可以测定微米级的粒径，电子显微镜可以测定纳米级的粒径。本法方便、可靠，能用于测定散剂、混悬剂、乳剂、混悬型软膏剂等粉体粒径，可测粒径范围为 0.2 ～100μm。

2 、筛分法其是粒径与粒径分布测量中使用zui早、应用zui广，且简单快速的方法。即利用筛孔将粉体机械阻挡的一种分级方法。将筛子由粗到细按筛号顺序上下排列，将一定量的粉体样品置于zui上层，振动一定时间，称量各个筛号上的粉体重量，求得各筛号上的不同孔径重量百分数，由此获得以重量为基准的筛分粒径分布及平均粒径。

3 、库尔特计数法本法测得的粒径为等体积球相当径，可以求得以个数为基准的粒度分布或以体积为基准的粒度分布，通常可用于测定粉末**、混悬液、乳剂、脂质体等制剂，也可用于注射剂的不溶性微粒检查。

4 、沉降法是通过监测混悬液粒子的沉降速度，利用粒子在液体介质中的沉降速度与粒子大小的关系，即Stocks 定律，来测定粒子有效径的方法。

5 、比表面积法利用粉体的比表面积随粒径的减少而迅速增加的原理，通过粉体层中比表面积的信息与粒径的关系求得平均粒径的方法。

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