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粉体学-粒径的测定方法（筛分法、显微镜法、库尔特计数法、沉降法、比表面积法）
日期：2024-12-17 06:54
浏览次数：2789
摘要：粉体学中粒径的测定方法介绍有（筛分法、显微镜法、库尔特计数法、沉降法、比表面积法，我们特别推荐的筛分法中，我们有适合各种筛分分析法的实验筛分设备供客户选购，欢迎进产品页面或者电话qq沟通选购。
1 、显微镜法 本法主要测定几何学粒径。光学显微镜可以测定微米级的粒径，电子显微镜可以测定纳米级的粒径。本法方便、可靠，能用于测定散剂、混悬剂、乳剂、混悬型软膏剂等粉体粒径，可测粒径范围为 0.2 ～100μm。
2 、筛分法 其是粒径与粒径分布测量中使用zui早、应用zui广，且简单快速的方法。即利用筛孔将粉体机械阻挡的一种分级方法。将筛子由粗到细按筛号顺序上下排列，将一定量的粉体样品置于zui上层，振动一定时间，称量各个筛号上的粉体重量，求得各筛号上的不同孔径重量百分数，由此获得以重量为基准的筛分粒径分布及平均粒径。
3 、库尔特计数法 本法测得的粒径为等体积球相当径，可以求得以个数为基准的粒度分布或以体积为基准的粒度分布，通常可用于测定粉末**、混悬液、乳剂、脂质体等制剂，也可用于注射剂的不溶性微粒检查。
4 、沉降法 是通过监测混悬液粒子的沉降速度，利用粒子在液体介质中的沉降速度与粒子大小的关系，即Stocks 定律，来测定粒子有效径的方法。
2 、筛分法 其是粒径与粒径分布测量中使用zui早、应用zui广，且简单快速的方法。即利用筛孔将粉体机械阻挡的一种分级方法。将筛子由粗到细按筛号顺序上下排列，将一定量的粉体样品置于zui上层，振动一定时间，称量各个筛号上的粉体重量，求得各筛号上的不同孔径重量百分数，由此获得以重量为基准的筛分粒径分布及平均粒径。
3 、库尔特计数法 本法测得的粒径为等体积球相当径，可以求得以个数为基准的粒度分布或以体积为基准的粒度分布，通常可用于测定粉末**、混悬液、乳剂、脂质体等制剂，也可用于注射剂的不溶性微粒检查。
4 、沉降法 是通过监测混悬液粒子的沉降速度，利用粒子在液体介质中的沉降速度与粒子大小的关系，即Stocks 定律，来测定粒子有效径的方法。
5 、比表面积法 利用粉体的比表面积随粒径的减少而迅速增加的原理，通过粉体层中比表面积的信息与粒径的关系求得平均粒径的方法。
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