日置HIOKI阻抗分析仪IM3570

产品概述

日置HIOKI阻抗分析仪IM3570是一款集成了LCR电桥与阻抗分析仪功能的**测量仪器。它支持4Hz至5MHz的测量频率和5mV至5V的测试信号电平，适用于多种测量条件下的高速连续测量。IM3570不仅在LCR模式下实现了1.5ms（1kHz）和0.5ms（100kHz）的高速测量，而且在基本精度上达到了±0.08%，确保了高精度的测量结果。

主要特点

测量速度与精度

IM3570在LCR模式下的测量速度非常快，1kHz时为1.5ms，100kHz时为0.5ms，这比之前的型号（如3522-50和3532-50）快了将近一倍。此外，IM3570在低阻抗测量时的重复精度提高了1位，这意味着测量结果更加可靠。

测量模式与功能

该仪器支持LCR测量、DCR测量、扫描测量等多种测量模式。在分析仪模式下，可以进行扫频测量、电平扫描测量和时间间隔测量。这些功能使得IM3570能够满足不同客户的需求，无论是压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，还是电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量，都能够轻松应对。

操作便捷性

IM3570延续了以往产品中操作简单的触摸屏设计，并采用了彩色液晶面板，能够清晰地显示数据，提高了操作性。这对于提高作业人员的工作效率非常有帮助。