SGW®X-4B显微熔点仪——慧龙环科
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SGW®X-4B显微熔点仪测定物质的熔点。用于**、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
SGW®X-4B显微熔点仪技术指标: 熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:±0.1℃(在<200℃时) ±0.2℃(在200~300℃时)
光学放大倍数:40-100倍随意调节
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