TE275分辨率测试卡
分辨率测试卡(斜边ISO 12233:2014)介绍
TE275设计用于使用斜边测量静态相机的分辨率。该测试卡在2014年2月发布的ISO标准12233的修订版中指定。
在TE268和TE253（正弦西门子星）和TE252（分辨率的视觉评估）旁边，斜边是ISO 12233标准中描述的用于分辨率测量的第三种模式。
分辨率测试卡TE275包含九个斜边结构，每个具有两个垂直和两个水平边缘，并且在中心具有聚焦辅助。倾斜边缘结构倾斜5°，并具有ISO 12233：2014要求的低对比度（调制在0.55和0.65之间）。背景根据ISO12233：2014提供0.15和0.25之间渐变。
斜边以一种方式布置，以在轴向信息上递送50％场位置（4:3纵横比）和70％场位置处的信息。
三个黑点可用于目标的自动检测。这种不对称布置的结构还有助于检查和校正目标的取向。
分辨率测试卡TE275可以使用框线和箭头用于4：3或3：2宽高比。
16个OECF色块的反射率和排列符合ISO 14524.通过对这些色块的分析，可以确定OECF并且线性化图像数据。
OECF色块、背景和斜边的参考：
Step
参考密度
1
1.78
2
1.56
3
1.38
4
1.22
5
1.08
6
0.95
7
0.83
8
0.72
9
0.62
10
0.53
11
0.44
12
0.36
13
0.29
14
0.14
15
0.21
16
0.08
斜边
1.30
背景
0.70
TE275分辨率测试卡参数:
型号
TE275
尺寸：
1066.67 x600mm
材料
高清相纸
比例
4:3/3:2
类型
反射式
京公网安备 11011502003124号
