TE194混叠效应测试卡

TE194混叠效应测试卡

测试卡介绍

混叠效应测试卡TE194设计用于测量混叠。该测试卡由��行矩形条组成，空间频率为1,2,4,6,8,10,12和14 MHz。

混叠效应（锯齿效应）是由两个光栅的干涉引起的摩尔扭曲。独立于相机类型，锯齿效应可能由于动态光栅和TV线结构的干扰而产生。众所周知的百叶帘效应或纺织条纹图案。

CCD相机具有由空间图像采样引起的特殊的内在混叠问题。在相机输出处获得的信号的频谱受到在CCD采样频率的倍数周围重复的基本频谱的损害。 CCD采样频率取决于CCD尺寸和每个CCD宽度的像素数量。对于图像的一些高空间频率，不满足由采样定理规定的条件，使得基本频谱和复制频谱可以被叠加并且引起频率间跳动。结果就是在图片中的摩尔纹。

摩尔纹的可视性取决于分析仪的类型，相机的低通光学滤波以及所分析的测试图案的空间频率。

TE194由8行矩形条组成，空间频率为1,2,4,6,8,10,12和14MHz。要调整奇数频率值3到13，图像必须以被测试图的上边缘和下边缘上的相应标记（箭头）限制的方式放大。

可以使用频谱分析仪或宽带视频示波器进行测量程序。

测量条件

l  伽玛校正：关闭

l  轮廓校正：关闭

l  颜色校正：打开

频谱分析仪测量

测量原理在于，在亮度信号Y或编码Y的光谱分析上，依次定位R，G，B;干扰线由采样产生。照相机在给定的空间频率下在测试图上对准。摄像机输出与频谱分析仪的输入相连。调整光圈，使得白电平对应于700mV / 75欧姆的视觉信号。基座设置为0mV。

如果水平CCD像素的数量是已知的，则可以计算容易位于分析仪屏幕上的采样频率：

采样F（MHz）=水平像素数/ 52

干扰线的频率由采样频率和测试模式频率之间的差给出：

干扰F =采样F — 测试模式F

测量涉及确定测试图案频率处的有用信号与干扰频率处的信号之间的电平差。必须对每个空间频率重复测量并进行几次（约10次）以确定平均结果。

TE194 混叠效应测试卡参数:

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