涂层测厚仪 - 深圳市展华仪器仪表有限公司

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	美国狄夫斯高DeFelsko涂层测厚仪PosiTector200B/S PosiTector200B/S	美国狄夫斯高DeFelsko涂层测厚仪PosiTector200B/S 型号 B/S B/A C/S C/A 测量范围 13～1000μm 50～3800μm 精度 ±(2μm+3%的读数) 美国狄夫斯高DeFelsko涂层测厚仪PosiTector200B/S
	涂层测厚仪CM-8823 CM-8823	涂层测厚仪CM-8823 测量范围：0-1000um/0-40mil (标准量程) 小曲面:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 分辨率: 0.1 um (小于100um) 1 um (大于100um) 小测量面积：6mm *薄基底：0.3mm 涂层测厚仪CM-8823
	铁基漆膜测厚仪LYT-2008 LYT-2008	铁基漆膜测厚仪LYT-2008 1.测量范围：0-1200um 2. 工作电源：两节五号电池 3. 分辨率：0.1um/1um（100um以下为0.1um） 4. 测量精度误差：零点校准 ±（1.5+3%H）；二点校准±【（1%～3%H）】H+1.5 5. 公英制转换：um/mil转换 6.环境温度:-10-40℃ 铁基漆膜测厚仪LYT-2008

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