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- 产品名称:原装日本OMRON位移传感器低泄露率
- 产品型号:ZX2-LD50L
- 产品展商:日本OMRON
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- 发布时间:2018-04-20
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简单介绍
原装日本OMRON位移传感器低泄露率
用小光点如实测量
激光位移传感器在测量段差及间隙时,
存在发生多面反射导致形状轮廓模糊、
边缘检测位置波动、位置检测精度下降等问题。
ZW-5000凭借10μm的小光点,可避免发生多面反射,
形状轮廓清晰,从而提*位置检测精度。
原装日本OMRON位移传感器低泄露率
产品描述
原装日本OMRON位移传感器低泄露率
**特点:
用小光点如实测量
激光位移传感器在测量段差及间隙时,
存在发生多面反射导致形状轮廓模糊、
边缘检测位置波动、位置检测精度下降等问题。
ZW-5000凭借10μm的小光点,可避免发生多面反射,
形状轮廓清晰,从而提*位置检测精度。
材质混在一起
根据材质的不同,
以往的激光位移传感器需要改变传感头的种类和安装方向,
每次都要花费调整时间。
白光共焦位移传感器无需区分使用传感头和安装方向,
可边移动边进行各种材质的测量。
粗糙面2的平坦度
使用以往的激光位移传感器时,
来自工件的多重反射光会诱发测量值跳动,
因此无法掌握本来希望测量的“平坦度”。
另外,传感头的朝向和测量线的方向会造成更大的偏差。
白光共焦位移传感器不受多重反射光的影响,
可1次性测量近似于实际形状的*度。
倾斜·曲面
相较于以往的激光位移传感器,即使是光泽面也能进行倾斜、
曲面的*精度形状测量。
技术参数:
项目型号ZW-S7010ZW-S7020ZW-S7030ZW-S5010ZW-S5020ZW-S5030
适用传感器控制器ZW-7000□ZW-5000□
测定中心距离10mm 20mm 30mm 10mm 20mm 30mm
测量范围±0.5mm 1±1mm 1±2mm 1±0.5mm ±1mm ±2mm
静止分辨率 2 0.004μm0.008μm0.016μm0.004μm0.008μm0.016μm
线性度 3±0.45μm±0.9μm±2.0μm±0.45μm±0.9μm±2.0μm
光点直径 :(测量范围内整区) 4 φ50μm φ70μm φ100μmφ9μm φ13μm φ18μm
测量周期 520μs~400μs80μs~1600μs
使用环境照度物体表面照度30000Lx以下:白炽灯
环境温度范围工作时:0~+50℃、保存时:-15~+60℃ (不结冰、不凝露)
环境湿度范围工作时/保存时:35~85%(不凝露)保护构造IP40(IEC60529)
振动(耐久)10~150Hz(单振幅0.35mm)、 X/Y/Z各方向 80分钟
冲击(耐久)150m/s2、6个方向、各3次(上下、左右、前后)
温度特性 60.6μm/℃1.1μm/℃1.8μm/℃0.6μm/℃1.1μm/℃1.8μm/℃
设计要点:“任何工件都想使用10μm*精度测量时”
颜色、材质发生改变,工件出现移动,
仍能够进行稳定测量的动态范围200万倍的CMOS【PAT.P】
通过欧姆龙**的HSDR-CMOS(High Speed and Dynamic range)
图像传感器的采用和激光电源的无级调节算法,
对金属以及基板、橡胶、透明物体等在任意颜色、
表面状态下都能够进行稳定测量。
实现线性0.05%F.S.时的10μm微指令测量。
即使工件的颜色、材质发生变化,仍能够稳定的测量
原装日本OMRON位移传感器低泄露率