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- 产品名称：SICK流量测量S30B-2011CA
- 产品型号：1025911 WL18-3P430
- 产品展商：SICK
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- 发布时间：2025-05-08
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简单介绍
插图 15：利用位移传感器 OC Sharp 测量半导体晶片的层厚
产品描述
SICK流量测量S30B-2011CA
使用干涉测量方法时，光学测量传感器可以无损和**地检测
从大约 3 μm 起的层厚。由此直接评估流程质量，而无需剔除
晶片。
插图 15：利用位移传感器 OC Sharp 测量半导体晶片的层厚
玻璃行业：玻璃的距离和厚度测量
为确保将玻璃表面放置在距夹具的合适距离处，距离测量是必
不可少的。一些基于激光的传感器以及彩色共焦传感器与超声
波传感器均适用于此用途。
1016933 WT24-2B410
1017860 WL24-2B430
1017910 PL240DG
1018252 WL12L-2B530
1018637 C40S-0403CA010
1018638 C40E-0403CA010
1018663 C40S-0704CA010
1018664 C40E-0704CA010
1022302 WT150-P460S03
1022659 WT2S-P231
1023972 MZT6-03VPS-KR0
1024123 MLG1-0290F52
1025911
1025911 WL18-3P430
1026517 DT500-A112
1027763 WTB27-3R2611
1028155 WL4-3F2130光电传感器
1034818 DKS40-E5J02048
1036558 SKM36S-HFA0-K02
1037059 SRS50-HAA0-K21
1040066 MM08-60ANS-ZUK
1040780 IME12-08NPSZC0S
1040848 IME08-1B5NSZW2S
1040854 IME08-2N5PSZT0S.
1040870 IME08-02BPSZT0
