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高度计基本结构原理
　　高度计：　ɡāo dù jì

　　高度计是针对众多工业应用领域及检测机构进行设计的各种量程的高精度仪器。

　　广泛适用于多种应用，其应用包括精密工件检测、多点检测、测量设备监测和位置测量等众多领域。

结构原理

　　仪器包括高精度光栅装置、密珠导轨的测量杆装置、高性能的高速采样等。

　　高度计采用高精度光栅作为测量基准，选用玻璃基体的增量式光栅尺，所以测量支持大测量范围，对震动和冲击不敏感，并具有确定的温度特性。

　　增量光栅尺的扫描方法为光电扫描，因此无机械接触也无磨损。电子设备对输出信号进行细分至纳米级的极小测量步距，从而确保一个信号周期内微小位置误差。

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