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PIKE衰减全反射附件的应用与特点

衰减全反射（Attenuated Total Reflection，ATR）：光波入射时，入射面内偏振的单色平面光波在密－疏媒质的界上全反射时，光疏媒质中所形成的迅衰场(见衰减波)量可以被耦合到金属或半导体的表面上而使表面等离激元(SP)或表面极化激元共振激发。全反射的光强因而发生剧邃衰减的现象。

利用光学中的迅衰场与SP相耦合衰减全反射方法在1968年由A.奥托提出。

PIKE衰减全反射附件被广泛应用于塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。它是一个通用型的附件，可以用来分析,固体,液体,糊状物,凝胶剂,及其它难处理的材料。 PIKE衰减全反射附件克服了传统透射法测试的不足，简化了样品的制作和处理过程，极大地扩展了红外光谱的应用范围。

特点：

高红外通量

多种晶体可选 - ZnSe, Diamond, Ge and Si crystal plates

温度控制附件

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您好，我司是一支技术力量雄厚的高素质的开发群体，为广大用户提供高品质产品、完整的解决方案和上等的技术服务公司。主要产品有pe公司atr衰减全反射附件、有色宝石颜色分级色卡、bruker公司ATR附件等。本企业坚持以诚信立业、以品质守业、以进取兴业的宗旨，以更坚定的步伐不断攀登新的高峰，为民族自动化行业作出贡献，欢迎新老顾客放心选购自己心仪的产品。我们将竭诚为您服务！

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