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QNIX4200/4500 涂层测厚仪
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QNIX4200/4500 涂层测厚仪
产品资料
QNIX4200/4500 涂层测厚仪
如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称:
QNIX4200/4500 涂层测厚仪
产品型号:
QNIX4200/4500
产品展商:
德国尼克斯
产品文档:
无相关文档
简单介绍
德国 QNIX4200/4500 涂层测厚仪 是利用霍尔原理而设计的探头与主机一体化金属涂层测厚仪 只需较零,无需校准 零位稳定 4200Fe探头,4500Fe/NFe探头 独特的直流采样技术
产品描述
QNIX4200/4500 涂层测厚仪技术参数:
磁性基体:Fe探头(4200/4500) 非磁性基体 NFe探头(4500)
测量范围:Fe:0-3000um/NFe:0-2000um
精度:0-50μm:≤±1μm,
50-1000μm:≤±1.5%,
1000-2000μm:≤±2%,
1000-3000μm≤±3%
*小接触面:10mm×10mm
*小曲率:凸、凹半径:3mm/25mm
*小基体厚度:Fe:0.2mm,NFe:0.05mm
温度补偿范围:0-60度
显示:LCD液晶
探头:红宝石固定式
电源:5号电池2节
尺 寸:110×60×27mm
重 量:110g
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