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雷尼绍测头扫描原理
日期：2024-10-05 20:53
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摘要：
雷尼绍测头扫描原理
扫描测头
扫描测头
扫描测头(雷尼绍测头)是微型测量仪器，每秒能够采集几百个表面点，可以测量形状、尺寸和位置。扫描测头也可用于采集离散点，与触发式测头类似。Renishaw提供了一系列解决方案，供各种尺寸和配置的坐标测量机选用。
SP25M测头：具有扫描和触发式模块的25 mm直径扫描测头；
SP600测头：高性能检测、数字化和轮廓扫描；
SP80测头：轴套安装式扫描测头，用长测针提供**的性能。
扫描原理
(雷尼绍测头)扫描测量提供了从规则型面工件或其他复杂工件上高速采集形状和轮廓数据的方法。
触发式测头可采集表面离散点，而扫描系统则可获取大量的表面数据，提供更详细的工件形状信息。因此，在实际应用中如果工件形状是整个误差预算的重要考量因素或必须对复杂表面进行检测，扫描测量可谓理想之选。扫描需要根本不同的传感器设计、机器控制和数据分析方法。Renishaw扫描测头独具特色的轻巧无源机构（**达或锁定机构），具有高固有频率，适合高速扫描测量。分离的光学测量系统直接（无需通过测头机构中的叠加轴）测量测针的变形量，以获得更高的精度和更快的动态响应。
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