CMI563表面铜厚测量仪膜厚仪 CMI563

CMI563表面铜厚测量仪膜厚仪

深圳市方源仪器有限公司供应的CMI563表面铜厚测量仪膜厚仪，是一款灵便易用的手持式测厚仪，它集快速**、价格合理、 质量可靠等优势于一体，专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。

CMI563表面铜厚测量仪膜厚仪产品性价比：

表面铜厚测量仪- CMI563采用微电阻测试技术，提供了准确和**测量表面铜铜厚（包括覆铜板、化学铜和电镀铜板）的方法。

CMI563表面铜厚测量仪采用了市场上*为先进的测试技术，印刷电路板背面铜层不会对这款测厚仪测量结果产生影响。

**性的CMI563铜箔测厚仪配置探针可由用户自行更换的SRP-4探头。相对于整个探头的更换，更换探针更为方便和经济。

表面铜厚测量仪- CMI563可由用户选择所测试的铜箔类型，既化学铜或电镀铜；甚至无需用户校准，即可测量线形铜箔厚度。这款测厚仪配有NIST（美国国家标准和技术学会）认证的校验用标准片，不同厚度供您选购。

CMI563表面铜厚测量仪膜厚仪产品技术参数：

铜厚测量范围：
非电镀铜：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm),
电镀铜：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
线形铜可测线宽范围：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)

准确度：±1% (±0.1 μm)参考标准片
**度：非电镀铜：标准差0.2 %；
电镀铜：标准差0.5 %
分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

接口：RS-232串行接口，波特率可调，用于下载至打印机或计算机
显示：4数位LCD液晶显示，2数位存储位置，字符高1/2英寸（1.27厘米）

存储量：13,500条读数
统计显示：测量个数，标准差，平均值，*大值，*小值。

单位：通过一个按键实现英制和公制的自动转换
电池：9伏电池
电池寿命：65小时连续使用

重量：9盎司（0.26千克）包括电池

尺寸：5 7/8英寸(长)×3 1/8英寸(宽)×1 3/16英寸(高) （14.9×7.94×3.02厘米）

另有耗材——面铜测厚仪探头销售。

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