测量外径光纤连接器与套圈测量IC部件的脚间距，宽度，间隙的测量轮间距的测量, 橡胶滚筒测量, 薄膜厚度测量形状测量, 精密轴测量, 插芯轴测量超大辊轴外径的双机测量超大滚轴外径的双机测量, 树脂教官XY同时测量圆通间隙测量, 销规外径, 塞规外径, 数据输出,同时测量电线，光纤，光轴XY同时测量光轴外径与跳动的同事测量钨钢捧外径与跳动的同事测量胶片厚度不均匀程度测量薄板厚度不均匀程度测量光盘的移动测量, 滚扎卷测量磁盘磁头的移动测量胶带寛度连续测量, 胶辊

FRT薄膜厚度测量仪采用膜层厚度测量传感器，非接触测量表面膜层，测量范围从10nm--250um，广泛应用于半导体晶片、光学镀膜加工、漆膜、氧化表面层测量。

leeb210/211涂层测厚仪是便携式涂（镀）层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂层（如油漆、防腐层）、镀层厚度的测量，也可进行薄膜厚度测量。

测量仪，测量膜层厚度从1nm到3.5mm。利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上*具性价比的膜厚测量仪设备。,岱美与Filmetrics有接近11年的合作关系，单是国内于过去4年已卖出超过170台不同型号仪器，在国内有多个服务处，有多位**工程师，保证能为客户提供及时的服务。美国Filmetrics光学膜厚

316系列厚薄表测量珠宝、皮革、金属薄板、纸张、薄膜、金属丝等材料的厚度，任意位置测量单位转换，任意位置清零。

三辊机:辊子直径:50mm,辊子长度:150mm,辊子材质:硬度铬不锈钢/氧化铝,刮刀材质:不锈钢/塑料/氧化铝.产量-升/小时/第三根辊子上的薄膜厚度（微米）给定产量的*大速度:0.5 辊子直径

PEACOCK G-2型 厚薄計 薄膜厚度计 线材厚度计 厚度表 卡规 数显卡规 指针卡规 深圳代理批发供应商產品名稱： 厚薄計 產品型號： G-2 產　　地： 日本 品　　牌： PEACOCK 測,定範圍： 20mm *小讀值： 0.01mm 精　　度： 25μm 詳細規格說明： 測定喉深33mmΦ10mm陶瓷平面測頭

SM-114测厚规主要用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量，加长型测臂具有更大的测量深度。其原理：在一定的面积与一定荷重下，测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。

特福龙气体采样袋Tefzel Teflon，泰德拉Tedlar气体采样袋，本公司生产的Tedlar Bag 泰德拉气体采样袋使用美国杜邦公司推荐的厚度为 2mil的气体采样袋专用Tedlar Film 泰德拉薄膜为原料，并结合自行研发的三种不同材料的二合一阀门, 为客户提拱了多种选择。

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SM-114测厚规 品牌：TECLOCK(日本得乐) 用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量，加长型测臂具有更大的测量深度。 测量范围：0-10mm *小读数：0.01mm 测量深度：120mm

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德国马尔mahr Millimar C1216M薄膜测厚仪，Millimar C1216M薄膜测厚仪是高精度型薄膜测厚仪，主要用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片等各种材料的厚度**测量。广泛应用于薄膜生产企业、质检机构、研究院校等对薄膜厚度有严格要求的领域