CMI900 X-荧光镀层测厚仪 CMI900

CMI900／950系列X射线萤光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了CMI900/950主机的**自动化控制。
适用产业：用于电子元件、半导体、PCB印刷电路板、汽车零件、功能性电镀、连接器、装饰件。
　　
CMI做为***品牌在PCB，五金瑞子连接器及电镀行业已形成一个行业标准，南华地区90％以上的大型企业都在使用CMI900系列做为检测镀层厚度的行业工具 X-荧光镀层测厚仪CMI900金属镀层厚度的**测量 CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂／镀层测量仪器，可应用于材料的涂／镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000 中文视窗系统的中文版SmartLinkFP应用软件包，实现了对CMI900／950主机的**自动化控制。
　　
CMI900系列X-射线荧光镀层厚度测量仪技术参数：
　　A：CMI900X-射线荧光镀层厚度测量仪，在技术上一直以来都**于全世界的测厚行业.CMI900能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体，极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定*多5层、15种元素。
　　B：**度**于世界，**到0.025um（相对与标准片）
　　C：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
　　D：统计功能提供数据平均值、误差分析、*大值、*小值、数据变动范围、相对偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK图、直方图、X-bar／R图等多种数据分析模式。CMI900／950系列X射线荧光测厚仪能够测

量多种几何形状各种尺寸的样品；
　　E：可测量任一测量点，*小可达0.025x0.051毫米样品台选择：CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。

CMI900系列X-射线荧光镀层厚度测量仪样品台选择：
CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
一：手动样品台
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二：自动样品台
1  程控样品台：XYZ轴自动控制。
2  超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。
CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：
1 全程控样品台：XYZ 三轴程序控制样品台，可接纳的样品*大高度为150mm，XY 轴程控移动范围为300mm x300mm。 此样品台可实现测定点自动编程控制。
2 Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品*大高度为270mm。
3 全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品*大高度为356mm。